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電子測(cè)量技術(shù)-(第2版)

作者：林占江
出版社：電子工業(yè)出版社出版時(shí)間：2010-05-01
開本： 16開 頁(yè)數(shù)： 354頁(yè)
中 圖 價(jià):¥24.7(6.5折) 定價(jià)  ¥38.0 登錄后可看到會(huì)員價(jià)
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電子測(cè)量技術(shù)-(第2版) 版權(quán)信息

電子測(cè)量技術(shù)-(第2版) 本書特色

《電子測(cè)量技術(shù)(第2版)》：秉承并保持第1版的基本內(nèi)容和特色按照采集和處理傳輸信號(hào)的性質(zhì)和特征來劃分章節(jié)分通用基礎(chǔ)測(cè)量、現(xiàn)代電子測(cè)量增加非電量測(cè)量、電磁兼容測(cè)量和調(diào)制域測(cè)量充實(shí)了智能儀器、虛擬儀器及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的內(nèi)容

電子測(cè)量技術(shù)-(第2版) 目錄

**部分 通用基礎(chǔ)測(cè)量第1章 緒論1.1 測(cè)量與計(jì)量的基本概念1.2 電子測(cè)量的內(nèi)容與特點(diǎn)1.3 電子測(cè)量?jī)x器的分類1.4 電子測(cè)量方法1.5 計(jì)量的基本內(nèi)容習(xí)題第2章測(cè)量誤差分析與數(shù)據(jù)處理2.1 測(cè)量誤差的基本原理2.1.1 研究誤差的目的2.1.2 測(cè)量誤差的表示方法2.1.3 電子測(cè)量?jī)x器誤差的表示方法2.1.4 一次直接測(cè)量時(shí)*大誤差的估計(jì)2.2 測(cè)量誤差的分類2.2.1 誤差的來源2.2.2 測(cè)量誤差的分類2.2.3 測(cè)量結(jié)果的評(píng)定2.3 隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)特性及其估算方法2.3.1 測(cè)量值的數(shù)學(xué)期望與標(biāo)準(zhǔn)差2.3.2 貝塞爾公式及其應(yīng)用2.3.3 均勻分布情況下的標(biāo)準(zhǔn)差2.3.4 非等精密度測(cè)量2.4 系統(tǒng)誤差的特征及其減小的方法2.4.l系統(tǒng)誤差的特征2.4.2 判斷系統(tǒng)誤差的方法2.4.3 減小系統(tǒng)誤差的方法2.5 疏失誤差及其判斷準(zhǔn)則2.5.1 測(cè)量結(jié)果的置信問題2.5.2 不確定度與壞值的剔除準(zhǔn)則2.6 測(cè)量數(shù)據(jù)的處理2.6.1 數(shù)據(jù)舍人規(guī)則2.6.2 等精密度測(cè)量結(jié)果的處理步驟2.6.3 曲線修勻2.6.4 *小二乘法原理2.6.5 測(cè)量不確定度2.7 誤差的合成與分配2.7.1 誤差傳遞公式2.7.2 常用函數(shù)的合成誤差2.7.3 系統(tǒng)誤差的合成2.7.4 按系統(tǒng)誤差相同的原則分配誤差2.7.5 按對(duì)總誤差影響相同的原則分配誤差2.7.6 微小誤差準(zhǔn)則2.8 *佳測(cè)量條件的確定與測(cè)量方案的設(shè)計(jì)2.8.1 *佳測(cè)量條件的確定2.8.2.測(cè)量方案設(shè)計(jì)習(xí)題第3章 模擬測(cè)量方法3.1 電壓測(cè)量概述3.2 交流電壓的測(cè)量3.2.1 交流電壓的表征3.2.2 交流電壓的測(cè)量方法3.2.3 平均值電壓的測(cè)量3.2.4 有效值電壓的測(cè)量3.2.5 峰值電壓的測(cè)量3.2.6 脈沖電壓的測(cè)量3.3 噪聲電壓的測(cè)量3.3.1 噪聲的基本特性3.3.2 用平均值表測(cè)量噪聲電壓3.3.3 器件和放大器噪聲的測(cè)量3.4 分貝的測(cè)量3.4.1 數(shù)學(xué)定義3.4.2 分貝值的測(cè)量3.5 失真度的測(cè)量3.5.1 非線性失真的定義3.5.2 失真度測(cè)量?jī)x基本工作原理3.5.3 有源陷波電路3.5.4 失真度測(cè)量?jī)x舉例3.6 功率的測(cè)量3.6.1 音頻與較高頻信號(hào)功率的測(cè)量3.6.2 誤差分析3.6.3 功率表實(shí)例——射頻功率表3.7 Q值的測(cè)量3.7.1 Q表的工作原理3.7.2 用虛、實(shí)部分分離法測(cè)量阻抗習(xí)題第4章 數(shù)字測(cè)量方法4.1 電壓測(cè)量的數(shù)字化方法4.1.1 DVM的特點(diǎn)4.1.2 DVM的主要類型4.1.3 DVM的測(cè)量誤差4.2 直流數(shù)字電壓表4.3 多用型數(shù)宇電壓表4.4 頻率的測(cè)量4.4.1 標(biāo)準(zhǔn)頻率源4.4.2 電子計(jì)數(shù)式頻率計(jì)的原理4.4.3 頻率計(jì)數(shù)器的組成4.4.4 高精精度10MHz頻率計(jì)4.4.5 脈沖累計(jì)的測(cè)量4.4.6 用計(jì)數(shù)式頻率計(jì)測(cè)量頻率比4.4.7 誤差分析4.5 時(shí)間的測(cè)量4.6 相位的測(cè)量4.6.1 脈沖計(jì)數(shù)法測(cè)相位4.6.2 數(shù)字相位計(jì)舉例習(xí)題第5章 時(shí)域測(cè)量5.1 示波器分類5.2 模擬示波器5.2.1 模擬示波器的基本構(gòu)成5.2.2 示波器顯示波形的原理5.2.3 示波管及直流供電系統(tǒng)5.2.4 垂直系統(tǒng)5.2.5 水平放大系統(tǒng)5.3 交替和斷續(xù)顯示5.4 取樣示波器5.5 記憶示波器5.6 數(shù)字存儲(chǔ)示波器5.7 示波器功能擴(kuò)展舉例5.8 示波器的應(yīng)用與選擇習(xí)題第6章 頻域測(cè)量6.1 掃頻儀6.1.1 常用術(shù)語6.1.2 掃頻儀中的關(guān)鍵器件6.2 掃頻儀工作原理6.2.1 整機(jī)電路原理框圖6.2.2 單元電路工作原理6.3 頻標(biāo)單元6.4 Y通道單元6.5 操作使用6.6 測(cè)試實(shí)例6.7 頻譜分析儀工作原理6.7.1 時(shí)域和頻域的關(guān)系6.7.2 頻譜分析儀的分類6.7.3 信號(hào)頻譜測(cè)量6.7.4 技術(shù)性能指標(biāo)6.7.5 操作使用要點(diǎn)習(xí)題第7章 數(shù)據(jù)域測(cè)量7.1 概述7.2 邏輯分析儀的特點(diǎn)7.3 邏輯分析儀的分類7.4 邏輯分析儀的基本工作原理7.5 邏輯分析儀的主要電路7.6 邏輯分析儀的主要工作方式7.7 邏輯狀態(tài)分析儀7.7.1 邏輯狀態(tài)分析儀的組成與流程圖7.7.2 主要單元電路的工作原理7.8 邏輯分析儀的應(yīng)用習(xí)題第8章 調(diào)制域測(cè)量8.1 概述8.2 調(diào)制方式的劃分8.3 調(diào)制信號(hào)測(cè)量的定義……第9章 非電量測(cè)量第10章 電磁兼容測(cè)量第二部分 現(xiàn)代電子測(cè)量第11章 智能儀器第12章 虛擬儀器第13章 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)參考文獻(xiàn)
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電子測(cè)量技術(shù)-(第2版) 節(jié)選

《電子測(cè)量技術(shù)(第2版)》系統(tǒng)地闡述電子測(cè)量的原理與方法，以及現(xiàn)代電子測(cè)量?jī)x器的原理與應(yīng)用。內(nèi)容包括：測(cè)量誤差分析與數(shù)據(jù)處理、模擬測(cè)量方法、數(shù)字測(cè)量方法、時(shí)域測(cè)量、頻域測(cè)量、數(shù)據(jù)域測(cè)量、調(diào)制域測(cè)量、非電量測(cè)量、電磁兼容測(cè)量、智能儀器、虛擬儀器及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)等。每章都附有習(xí)題！峨娮訙y(cè)量技術(shù)(第2版)》在選材上具有一定的先進(jìn)性、系統(tǒng)性和實(shí)用性，內(nèi)容豐富，使用面廣，可作為高等學(xué)校電子信息類專業(yè)的教材或參考書，對(duì)于從事電子技術(shù)工作的科技人員也有較大的參考價(jià)值。

電子測(cè)量技術(shù)-(第2版) 相關(guān)資料

插圖：誤差的合成與分配前述是關(guān)于直接測(cè)量的誤差計(jì)算問題。在很多場(chǎng)合下，由于進(jìn)行直接測(cè)量有困難或直接測(cè)量難以保證準(zhǔn)確度，需要采用間接測(cè)量。通過直接測(cè)量與被測(cè)量有一定函數(shù)關(guān)系的其他參數(shù)，再根據(jù)函數(shù)關(guān)系算出被測(cè)量。在這種測(cè)量中，測(cè)量誤差是各個(gè)測(cè)量值誤差的函數(shù)。研究這種函數(shù)誤差有下列兩個(gè)方面的內(nèi)容：（1）已知被測(cè)量與各參數(shù)之間的函數(shù)關(guān)系及各測(cè)量值的誤差，求函數(shù)的總誤差。這是誤差的合成問題。在間接測(cè)量中，如功率、電能、增益等量值的測(cè)量，一般都是通過電壓、電流、電阻及時(shí)間等直接測(cè)量值計(jì)算出來的，如何用各分項(xiàng)誤差求出總誤差是經(jīng)常遇到的問題。（2）已知各參數(shù)之間的函數(shù)關(guān)系及對(duì)總誤差的要求，分別確定各個(gè)參數(shù)測(cè)量的誤差。這是誤差分配問題。它在實(shí)際測(cè)量中具有重要意義。例如，制訂測(cè)量方案時(shí)，當(dāng)總誤差由測(cè)量任務(wù)被限制在某一允許范圍內(nèi)時(shí)，如何確定各參數(shù)誤差的允許界限？這就是由總誤差求分項(xiàng)誤差的問題。再比如；制造一種測(cè)量?jī)x器，要保證儀器的標(biāo)稱誤差不超過規(guī)定的準(zhǔn)確度等級(jí)，應(yīng)對(duì)儀器各組成單元的允許誤差提出分項(xiàng)誤差要求，這就是利用誤差分配來解決設(shè)計(jì)問題。可見，研究誤差合成與分配是很重要的。

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