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裂尖應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究 版權(quán)信息
- ISBN:9787111598213
- 條形碼:9787111598213 ; 978-7-111-59821-3
- 裝幀:一般膠版紙
- 冊數(shù):暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>
裂尖應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究 內(nèi)容簡介
本書在介紹固體缺陷及線彈性斷裂力學(xué)理論、掃描電子顯微鏡原理及結(jié)構(gòu)、幾何相位分析方法等的基礎(chǔ)上,將原位掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)與幾何相位分析方法相結(jié)合,深入分析了5A05鋁合金、多晶鉬及單晶硅中微裂紋的萌生及擴(kuò)展過程,研究了裂紋很好的微米尺度及亞微米尺度應(yīng)變場。
裂尖應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究 目錄
目錄
前 言
第1章 緒論1
。.1 固體缺陷1
。.1.1 點(diǎn)缺陷2
。.1.2 線缺陷5
1.1.3 面缺陷6
。.1.4 體缺陷7
。.2 微裂紋研究進(jìn)展9
。.3 實(shí)驗(yàn)力學(xué)測試技術(shù)的發(fā)展14
。.4 本書內(nèi)容安排19
第2章 線彈性斷裂力學(xué)理論22
2.1 斷裂力學(xué)概述22
。.2 斷裂的分類25
2.3 線彈性斷裂力學(xué)基礎(chǔ)理論29
。.3.1。牵颍椋妫妫椋簦栉⒘鸭y理論及修正30
2.3.2 裂紋尖端附近的應(yīng)力場和應(yīng)力強(qiáng)度因子33
。.3.3 斷裂韌度及裂紋失穩(wěn)擴(kuò)展判據(jù)35
。.4 本章小結(jié)
第3章 掃描電子顯微鏡38
。.1 掃描電子顯微鏡發(fā)展概述38
3.2 掃描電子顯微鏡的性能特點(diǎn)40
。.3 掃描電子顯微鏡的工作原理42
3.4 掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)43
。.5 掃描電子顯微鏡的分類46
3.6 掃描電子顯微鏡圖像的襯度形成原理49
。.7 本章小結(jié)51
第4章 幾何相位分析方法52
。.1 幾何相位分析方法的原理52
4.2 幾何相位分析的步驟56
。.3 掩模大小對幾何相位分析方法測定結(jié)果的影響分析57
。.3.1 實(shí)驗(yàn)過程57
。.3.2 結(jié)果與討論58
。.4 本章小結(jié)61
第5章 5A05鋁合金微裂紋尖端應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究62
5.1 實(shí)驗(yàn)方法62
。.1.1 幾何相位分析方法62
5.1.2 數(shù)字圖像相關(guān)方法62
。.1.3 試樣的制備64
。.1.4 原位掃描電子顯微鏡三點(diǎn)彎曲實(shí)驗(yàn)65
。.2 結(jié)果與討論66
。.2.1 微裂紋萌生及擴(kuò)展分析66
。.2.2 微裂紋尖端應(yīng)變場分析70
。.3 本章小結(jié)77
第6章 多晶鉬微裂紋尖端應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究。罚
。.1 理論模型79
。.2 實(shí)驗(yàn)方法81
。.2.1 幾何相位分析方法81
。.2.2 試樣的制備81
。.2.3 原位掃描電子顯微鏡單軸拉伸實(shí)驗(yàn)83
6.3 結(jié)果與討論84
。.4 本章小結(jié)89
第7章 單晶硅微裂紋尖端應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究91
7.1 理論模型92
。.2 實(shí)驗(yàn)方法92
7.2.1 幾何相位分析方法92
。.2.2 試樣的制備92
。.2.3 原位掃描電子顯微鏡單軸拉伸實(shí)驗(yàn)94
7.3 結(jié)果與討論94
。.4 本章小結(jié)100
第8章 總結(jié)和展望102
8.1 總結(jié)102
。.2 展望106
參考文獻(xiàn)108
前 言
第1章 緒論1
。.1 固體缺陷1
。.1.1 點(diǎn)缺陷2
。.1.2 線缺陷5
1.1.3 面缺陷6
。.1.4 體缺陷7
。.2 微裂紋研究進(jìn)展9
。.3 實(shí)驗(yàn)力學(xué)測試技術(shù)的發(fā)展14
。.4 本書內(nèi)容安排19
第2章 線彈性斷裂力學(xué)理論22
2.1 斷裂力學(xué)概述22
。.2 斷裂的分類25
2.3 線彈性斷裂力學(xué)基礎(chǔ)理論29
。.3.1。牵颍椋妫妫椋簦栉⒘鸭y理論及修正30
2.3.2 裂紋尖端附近的應(yīng)力場和應(yīng)力強(qiáng)度因子33
。.3.3 斷裂韌度及裂紋失穩(wěn)擴(kuò)展判據(jù)35
。.4 本章小結(jié)
第3章 掃描電子顯微鏡38
。.1 掃描電子顯微鏡發(fā)展概述38
3.2 掃描電子顯微鏡的性能特點(diǎn)40
。.3 掃描電子顯微鏡的工作原理42
3.4 掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)43
。.5 掃描電子顯微鏡的分類46
3.6 掃描電子顯微鏡圖像的襯度形成原理49
。.7 本章小結(jié)51
第4章 幾何相位分析方法52
。.1 幾何相位分析方法的原理52
4.2 幾何相位分析的步驟56
。.3 掩模大小對幾何相位分析方法測定結(jié)果的影響分析57
。.3.1 實(shí)驗(yàn)過程57
。.3.2 結(jié)果與討論58
。.4 本章小結(jié)61
第5章 5A05鋁合金微裂紋尖端應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究62
5.1 實(shí)驗(yàn)方法62
。.1.1 幾何相位分析方法62
5.1.2 數(shù)字圖像相關(guān)方法62
。.1.3 試樣的制備64
。.1.4 原位掃描電子顯微鏡三點(diǎn)彎曲實(shí)驗(yàn)65
。.2 結(jié)果與討論66
。.2.1 微裂紋萌生及擴(kuò)展分析66
。.2.2 微裂紋尖端應(yīng)變場分析70
。.3 本章小結(jié)77
第6章 多晶鉬微裂紋尖端應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究。罚
。.1 理論模型79
。.2 實(shí)驗(yàn)方法81
。.2.1 幾何相位分析方法81
。.2.2 試樣的制備81
。.2.3 原位掃描電子顯微鏡單軸拉伸實(shí)驗(yàn)83
6.3 結(jié)果與討論84
。.4 本章小結(jié)89
第7章 單晶硅微裂紋尖端應(yīng)變場原位實(shí)驗(yàn)研究91
7.1 理論模型92
。.2 實(shí)驗(yàn)方法92
7.2.1 幾何相位分析方法92
。.2.2 試樣的制備92
。.2.3 原位掃描電子顯微鏡單軸拉伸實(shí)驗(yàn)94
7.3 結(jié)果與討論94
。.4 本章小結(jié)100
第8章 總結(jié)和展望102
8.1 總結(jié)102
。.2 展望106
參考文獻(xiàn)108
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