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互換性與測(cè)量技術(shù)習(xí)題與解答

互換性與測(cè)量技術(shù)習(xí)題與解答

出版社:浙江大學(xué)出版社出版時(shí)間:2006-12-01
開本: 16開 頁(yè)數(shù): 125
本類榜單:教材銷量榜
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互換性與測(cè)量技術(shù)習(xí)題與解答 版權(quán)信息

互換性與測(cè)量技術(shù)習(xí)題與解答 內(nèi)容簡(jiǎn)介

簡(jiǎn)介   本書是與《互換性與測(cè)量技術(shù)》一書配套使用的習(xí)題集,內(nèi)容涵蓋測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)、公差與配合、圓柱公差、形位公差、表面粗糙度等內(nèi)容。

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