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無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)

無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)

作者：陳文革
出版社：冶金工業(yè)出版社出版時(shí)間：2019-02-01
開(kāi)本： 16開(kāi) 頁(yè)數(shù)： 172
中 圖 價(jià):¥23.8(8.5折) 定價(jià)  ¥28.0 登錄后可看到會(huì)員價(jià)
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無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù) 版權(quán)信息

無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù) 本書(shū)特色

《無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)》共分8章，內(nèi)容包括：緒論、缺陷分析、射線檢測(cè)、超聲波檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、渦流檢測(cè)、滲透檢測(cè)和無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)等。
　　《無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)》重點(diǎn)介紹了五大探傷方法的原理、檢測(cè)技術(shù)方法、檢測(cè)結(jié)果分析和應(yīng)用特征。針對(duì)教學(xué)內(nèi)容書(shū)后配有適量習(xí)題和答案。
　　《無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)》可作為大專院校材料科學(xué)與工程專業(yè)教學(xué)用書(shū)，也可作為機(jī)械、檢測(cè)等在職無(wú)損檢測(cè)人員培訓(xùn)的教材，還可供從事工程設(shè)計(jì)、技術(shù)管理、安全防護(hù)管理人員和廣大無(wú)損檢測(cè)工作者參考。

無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù) 內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)》共分8章，內(nèi)容包括：緒論、缺陷分析、射線檢測(cè)、超聲波檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、渦流檢測(cè)、滲透檢測(cè)和無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)等。　　《無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)》重點(diǎn)介紹了五大探傷方法的原理、檢測(cè)技術(shù)方法、檢測(cè)結(jié)果分析和應(yīng)用特征。針對(duì)教學(xué)內(nèi)容書(shū)后配有適量習(xí)題和答案！　　稛o(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù)》可作為大專院校材料科學(xué)與工程專業(yè)教學(xué)用書(shū)，也可作為機(jī)械、檢測(cè)等在職無(wú)損檢測(cè)人員培訓(xùn)的教材，還可供從事工程設(shè)計(jì)、技術(shù)管理、安全防護(hù)管理人員和廣大無(wú)損檢測(cè)工作者參考。

無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù) 目錄

**章緒論1.1無(wú)損檢測(cè)的概念1.2無(wú)損檢測(cè)的作用及特點(diǎn)1.2.1無(wú)損檢測(cè)的作用1.2.2無(wú)損檢測(cè)的特點(diǎn)1.3無(wú)損檢測(cè)的基礎(chǔ)1.3.1材料的的物理性能1.3.2不同加工方法引起的缺陷種類及產(chǎn)生原因1.4無(wú)損檢測(cè)技術(shù)人員的任務(wù)1.5無(wú)損檢測(cè)的分類及內(nèi)容1.5.1無(wú)損檢測(cè)的分類1.5.2各種無(wú)損檢測(cè)方法的的選用1.6無(wú)損檢測(cè)的地位、現(xiàn)狀及意義1.6.1無(wú)損檢測(cè)在國(guó)民經(jīng)濟(jì)中的的地位和意義1.6.2國(guó)外無(wú)損檢測(cè)概況1.6.3中國(guó)無(wú)損檢測(cè)的狀況1.6.4無(wú)損檢測(cè)的發(fā)展動(dòng)向及未來(lái)預(yù)測(cè)第二章缺陷分析2.1概述2.1.1工藝缺陷的分類2.1.2工藝缺陷的危害性(定性分析)2.1.3工藝缺陷的辯證分析2.2典型工藝缺陷類別及形成原因2.2.1焊接焊接缺陷及原因分析2.2.2鑄造缺陷及其分析原因2.2.3鍛造缺陷及原因分析2.2.4熱處理缺陷及原因分析2.2.5其他缺陷及原因分析第三章射線檢測(cè)3.1射線及射線檢測(cè)的基礎(chǔ)3.1.1射線檢測(cè)的概念及分類3.1.2射線的基本性質(zhì)3.1.3射線的產(chǎn)生3.2射線檢測(cè)的基本原理3.2.1射線在物質(zhì)中的衰減定律3.2.2射線檢測(cè)的基本原理 3.3射線檢測(cè)裝置及應(yīng)用3.3.1X射線管3.3.2γ射線源3.3.3高能射線探傷3.4射線檢測(cè)的技術(shù)3.4.1射線照相檢測(cè)技術(shù)3.4.2射線探傷熒光屏觀察法3.4.3工業(yè)X射線電石法3.3.4中子射線檢測(cè)3.4.5電離法檢測(cè)3.5射線的安全與防護(hù)3.5.1射線防護(hù)的基礎(chǔ)知識(shí)3.5.2射線的防護(hù)措施第四章超聲波檢測(cè)4.1超聲波探傷的物理基礎(chǔ)4.1.1超聲波和超聲波探傷的概念4.1.2超聲波的產(chǎn)生和接收4.1.3超聲波的種類和特點(diǎn)4.1.4聲場(chǎng)的形狀和特征4.2超聲波探傷的基本原理4.2.1脈沖超聲波探傷原理4.2.2超聲波在界面上的反射、折射和穿透現(xiàn)象4.2.3超聲波的衰減現(xiàn)象和原因4.3超聲波探傷的技術(shù)4.3.1超聲波探傷步驟4.3.2超聲波探傷探頭4.3.3超聲波探傷用試塊4.3.4超聲波探傷缺陷的評(píng)定技術(shù)4.4超聲波探傷的影響因素4.4.1缺陷本身的影響4.4.2儀器的影響4.4.3被檢材料組織的影響4.5超聲波探傷的使用范圍和特征第五章磁粉檢測(cè)5.1磁粉檢測(cè)的物理基礎(chǔ)5.1.1磁粉檢測(cè)的概念及過(guò)程5.1.2磁極的形成5.1.3鋼鐵材料的磁特性 5.2磁粉檢測(cè)的基本原理5.2.1磁粉檢測(cè)的基本原理5.2.2漏磁和漏磁場(chǎng)5.3磁粉探傷設(shè)備5.4磁粉檢測(cè)技術(shù)5.4.1磁粉的分類及性能5.4.2磁化方法5.4.3磁化電流值的確定5.4.4退磁和檢驗(yàn)5.5磁粉探傷方法5.5.1磁粉探傷分類5.5.2磁粉探傷步驟5.6磁粉檢測(cè)的使用范圍與特征第六章電磁感應(yīng)檢測(cè)6.1渦流檢測(cè)的物理基礎(chǔ)6.1.1渦流檢測(cè)的概念6.1.2渦流的產(chǎn)生6.2渦流檢測(cè)的基本原理6.2.1渦流檢測(cè)的基本原理6.2.2集膚效應(yīng)和滲透深度6.3渦流檢測(cè)的技術(shù)6.3.1渦流檢測(cè)裝置6.3.2檢測(cè)線圈的種類和使用6.3.3渦流檢測(cè)用試塊6.3.4渦流檢測(cè)的方法6.4渦流檢測(cè)的應(yīng)用6.4.1材質(zhì)檢測(cè)6.4.2厚度檢測(cè)6.5電磁感應(yīng)(渦流)檢測(cè)的適用范圍和特征第七章滲透檢測(cè)7.1滲透檢測(cè)的物理基礎(chǔ)7.1.1滲透檢測(cè)的概念7.1.2滲透劑的組成及作用7.1.3顯像劑的組成及作用7.2滲透檢測(cè)的基本原理7.2.1毛細(xì)現(xiàn)象和潤(rùn)濕7.2.2滲透檢測(cè)的原理7.3滲透檢測(cè)的技術(shù)7.3.1滲透探傷方法的分類及應(yīng)用7.3.2滲透探傷用試塊7.4滲透探傷設(shè)備 7.4.1固定式滲透探傷設(shè)備7.4.2可移動(dòng)或攜帶探傷設(shè)備7.5滲透檢測(cè)的適用范圍與特征7.5.1滲透檢測(cè)的適用范圍7.5.2滲透檢測(cè)的特征第八章無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)8.1聲發(fā)射檢測(cè)8.1.1聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)及原理8.1.2聲發(fā)射檢測(cè)儀器8.1.3聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)特點(diǎn)8.1.4聲發(fā)射檢測(cè)的應(yīng)用8.1.5影響材料聲發(fā)射特性的因素8.2紅外無(wú)損檢測(cè)8.2.1紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)及存在問(wèn)題8.2.2紅外無(wú)損檢測(cè)基礎(chǔ)8.2.3紅外無(wú)損檢測(cè)方法8.2.4紅外無(wú)損檢測(cè)儀器8.2.5紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用8.2.6紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展8.3激光全息照相檢測(cè)8.3.1激光全息檢測(cè)的特點(diǎn)與原理8.3.2激光全息檢測(cè)方法8.3.3激光全息檢測(cè)的應(yīng)用8.4微波無(wú)損檢測(cè)8.4.1微波的性質(zhì)及特點(diǎn)8.4.2微波的產(chǎn)生與傳輸8.4.3微波檢測(cè)的基本原理8.4.4微波的檢測(cè)方法8.4.5微波檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用8.5聲振(聲阻)檢測(cè)8.5.1聲振檢測(cè)的原理及方法8.5.2聲振檢測(cè)的應(yīng)用8.5.3聲震檢測(cè)的研究進(jìn)展8.6磁記憶檢測(cè)8.6.1磁記憶效應(yīng)8.6.2檢測(cè)原理8.6.3磁記憶檢測(cè)特點(diǎn) 8.7超聲導(dǎo)波檢測(cè)8.8超聲波相控陣檢測(cè)8.8.1超聲波相控陣檢測(cè)原理8.8.2超聲波相控陣探頭8.8.3相控陣波束8.8.4超聲波相控檢測(cè)原理8.8.5超聲波相控陣檢測(cè)應(yīng)用習(xí)題參考文獻(xiàn)
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無(wú)損檢測(cè)原理及技術(shù) 作者簡(jiǎn)介

陳文革，男，教授、博士，1991年畢業(yè)于西安理工大學(xué)，2005年在西安交通大學(xué)獲工學(xué)博士學(xué)位。2008年聘任為教授，在西安理工大學(xué)材料科學(xué)與工程系任教至今。是《中國(guó)有色金屬學(xué)報(bào)》、《功能材料》、《表面技術(shù)》等期刊以及國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目的評(píng)審專家。是西安市石墨烯微宏觀調(diào)控及其功能材料研發(fā)中心的負(fù)責(zé)人之一。主持或參與國(guó)家、省、市、企業(yè)各類項(xiàng)目幾十項(xiàng)；曾獲得國(guó)家科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)、西安市科技進(jìn)步三等獎(jiǎng)各一項(xiàng)。

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