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電子系統(tǒng)測試原理

出版社：機械工業(yè)出版社出版時間：2007-01-01
所屬叢書： 電子與電氣工程叢書
開本： 其它 頁數(shù)： 322
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電子系統(tǒng)測試原理 版權信息

電子系統(tǒng)測試原理 內(nèi)容簡介

隨著電子技術的不斷發(fā)展，電子系統(tǒng)測試面臨越來越大的挑戰(zhàn)：研究更精確的故障模型，在高層設計上檢查易測試性，在綜合過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹了測試的基本原理和很多必需的基礎知識，來面對這些挑戰(zhàn)。
本書涉及開發(fā)可靠電子產(chǎn)品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助于測試的設計檢查；研究了如何將測試應用于隨機邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。*后，提供了針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，并掌握眾多解決方案。本書的主要內(nèi)容包括：
●解釋了測試在設計中的作用。
●詳細討論了掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片系統(tǒng)的測試。

電子系統(tǒng)測試原理 目錄

第I部分設計與測試
　第1章測試綜述
　　1.1可靠性與測試
　　1.2設計過程
　　1.3驗證
　　　1.3.1功能模擬
　　　1.3.2時間模擬
　　1.4測試
　　1.5故障及其檢測
　　1.6測試碼生成
　　1.7故障覆蓋率
　　1.8測試類型
　　　1.8.1窮舉測試
　　　1.8.2偽窮舉測試
　　　1.8.3偽隨機測試
　　　1.8.4確定性測試
　　1.9測試應用
　　　1.9.1在線測試與離線測試
　　　1.9.2自動測試儀器
　　　1.9.3片上測試與片外測試
　　1.10易測試性設計
　　　1.10.1可控性
　　　1.10.2可觀察性
　　1.11測試經(jīng)濟
　　　1.11.1收益和缺陷級
　　　1.11.2故障覆蓋率和缺陷級別
　　1.12進一步研究
　　參考文獻
　　習題
　第2章缺陷、失效和故障
　　2.1簡介
　　2.2物理缺陷
　　　2.2.1材料過多和缺失
　　　2.2.2氧化物斷裂
　　　2.2.3電遷移
　　2.3故障模式
　　　2.3.1開路
　　　2.3.2短路
　　2.4故障
　　2.5固定型故障
　　　2.5.1單固定型故障
　　　2.5.2多固定故障
　　2.6故障列表
　　　2.6.1等價關系
　　　2.6.2支配關系
　　　2.6.3故障精簡
　　2.7橋接故障
　　2.8短路和開路故障
　　　2.8.1NMOS電路
　　　2.8.2CMOS電路
　　2.9時延故障
　　2.10暫時失效
　　　2.10.1瞬時故障
　　　2.10.2間歇故障
　　2.11噪聲失效
　　參考文獻
　　習題
　第3章設計表示
　第4章VLSI設計流程
第II部分測試流程
　第5章測試中模擬的角色
　第6章自動測試碼生成
　第7章電流測試
第III部分易測試性設計
　第8章專用技術
　第9章路徑掃描設計
　第10章邊界掃描測試
　第11章內(nèi)建自測試
第IV部分特殊結構
　第12章存儲器測試
　第13章FPGA與微處理器的測試
第V部分高級論題
　第14章易測試性綜合
　第15章SOC測試
附錄A參考書目
附錄B縮寫詞表
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電子系統(tǒng)測試原理 作者簡介

SamihaMourad博士是加利福尼亞圣克拉拉大學電子工程系教授。YervantZorian博士是加利福尼亞圣何塞LogicVision公司的首席技術顧問。

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