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互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)

互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)

出版社:河北大學(xué)出版社出版時(shí)間:2015-01-31
開本: 16開 頁數(shù): 202
中 圖 價(jià):¥22.8(6.0折) 定價(jià)  ¥38.0 登錄后可看到會(huì)員價(jià)
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互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ) 版權(quán)信息

互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ) 內(nèi)容簡(jiǎn)介

本書共9個(gè)模塊,包括緒論、極限與配合標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)、行位公差與檢測(cè)、表面粗糙度與檢測(cè)、常用連接件的公差與檢測(cè)等。

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