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礦物材料結(jié)構(gòu)與表征

礦物材料結(jié)構(gòu)與表征

作者：楊華明
出版社：科學(xué)出版社出版時間：2024-03-01
開本： B5 頁數(shù)： 364
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礦物材料結(jié)構(gòu)與表征 版權(quán)信息

礦物材料結(jié)構(gòu)與表征 內(nèi)容簡介

《礦物材料結(jié)構(gòu)與表征》主要介紹礦物材料的元素成分、晶體結(jié)構(gòu)、形貌特征、顆粒特性、孔結(jié)構(gòu)特征、熱行為、表面特性及界面特征的表征方法，包括基本原理、儀器設(shè)備及在礦物材料中的應(yīng)用情況

礦物材料結(jié)構(gòu)與表征 目錄

目錄叢書序前言第1章緒論11.1礦物材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系11.2礦物材料結(jié)構(gòu)表征的基本方法21.2.1化學(xué)組成與晶體結(jié)構(gòu)分析31.2.2顆粒形貌分析51.2.3表界面分析6參考文獻(xiàn)8第2章礦物材料元素及成分92.1概述92.2化學(xué)分析92.2.1測試樣品的制備92.2.2滴定分析法92.2.3重量分析法122.2.4化學(xué)分析在礦物材料中的應(yīng)用142.3X射線熒光光譜162.3.1X射線熒光光譜分析原理162.3.2X射線熒光光譜儀212.3.3定性和半定量分析222.3.4定量分析242.3.5X射線熒光光譜在礦物材料中的應(yīng)用282.4電感耦合等離子體光譜292.4.1電感耦合等離子體光譜分析原理292.4.2電感耦合等離子體光譜儀及構(gòu)造302.4.3樣品處理302.4.4定量分析342.4.5電感耦合等離子體光譜在礦物材料中的應(yīng)用382.5原子吸收光譜432.5.1原子吸收光譜分析基本原理432.5.2原子吸收分光光度計432.5.3干擾及消除方法442.5.4定量分析462.5.5原子吸收光譜在礦物材料中的應(yīng)用49參考文獻(xiàn)51第3章礦物材料晶體結(jié)構(gòu)533.1概述533.2X射線衍射533.2.1X射線基礎(chǔ)知識及布拉格方程533.2.2X射線衍射儀543.2.3X射線多晶物相分析553.2.4X射線衍射在礦物材料中的應(yīng)用563.3核磁共振波譜613.3.1核磁共振波譜分析基本原理613.3.2核磁共振波譜的主要參數(shù)633.3.3核磁共振波譜儀663.3.4核磁共振波譜在礦物材料中的應(yīng)用683.4穆斯堡爾譜703.4.1穆斯堡爾譜基本原理703.4.2穆斯堡爾譜儀器構(gòu)成773.4.3穆斯堡爾譜分析方法783.4.4穆斯堡爾譜在礦物材料中的應(yīng)用803.5中子技術(shù)823.5.1中子技術(shù)基本原理823.5.2中子技術(shù)裝置863.5.3中子技術(shù)樣品制備及分析893.5.4中子技術(shù)在礦物材料中的應(yīng)用923.6同步輻射933.6.1同步輻射基本原理933.6.2同步輻射裝置943.6.3同步輻射樣品制備及分析943.6.4同步輻射在礦物材料中的應(yīng)用963.7單晶衍射983.7.1單晶衍射基本原理983.7.2單晶衍射分析儀及構(gòu)造983.7.3單晶衍射樣品制備及分析993.7.4單晶衍射在礦物材料中的應(yīng)用100參考文獻(xiàn)101第4章礦物材料形貌表征1044.1概述1044.2光學(xué)顯微鏡1044.2.1光學(xué)顯微鏡工作原理和儀器構(gòu)造1054.2.2光學(xué)顯微鏡的樣品制備1084.2.3光學(xué)顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用1094.3掃描電子顯微鏡1104.3.1掃描電子顯微鏡工作原理和儀器構(gòu)造1104.3.2掃描電子顯微鏡的圖像襯度1134.3.3掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)1174.3.4掃描電子顯微鏡的樣品制備1184.3.5掃描電子顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用1204.4透射電子顯微鏡1224.4.1透射電子顯微鏡基本原理和儀器構(gòu)造1224.4.2透射電子顯微鏡的特點(diǎn)1404.4.3透射電子顯微鏡的樣品制備1414.4.4電子衍射1414.4.5高分辨電子顯微技術(shù)1444.4.6透射電子顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用1454.5冷凍電子顯微鏡1474.5.1冷凍電子顯微鏡技術(shù)原理1474.5.2冷凍電子顯微鏡分類1474.5.3樣品制備及分析1484.5.4冷凍電子顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用149參考文獻(xiàn)150第5章礦物材料顆粒特性1535.1概述1535.2沉降法1535.2.1沉降法基本原理1535.2.2沉降法測試過程1595.2.3數(shù)據(jù)處理及分析1645.3顯微圖像法1655.3.1顯微圖像法基本原理1665.3.2顯微圖像法儀器1665.3.3顯微圖像法樣品制備1665.4激光粒度儀法1675.4.1激光粒度法基本原理1685.4.2激光粒度儀器1755.4.3樣品制備1785.5電阻粒度儀法1795.5.1電阻法基本原理1795.5.2電阻法粒度儀1815.5.3樣品制備181參考文獻(xiàn)182第6章礦物材料孔結(jié)構(gòu)特征1846.1概述1846.2氣體吸附法1856.2.1吸附基本概念1856.2.2氣體吸附法測試孔結(jié)構(gòu)基本原理1876.2.3氣體吸附儀1916.2.4氣體吸附數(shù)據(jù)分析1946.2.5N2吸附脫附原始數(shù)據(jù)處理1966.3壓汞法2016.3.1壓汞法基本原理2016.3.2壓汞法儀器構(gòu)造2036.3.3壓汞法數(shù)據(jù)分析2076.4小角X射線散射法2096.4.1小角X射線散射法測試孔結(jié)構(gòu)基本原理2096.4.2小角X射線散射法儀器構(gòu)造2136.4.3小角X射線散射法數(shù)據(jù)分析214參考文獻(xiàn)217第7章礦物材料熱分析2227.1概述2227.2熱分析技術(shù)2237.2.1熱分析基本概念和定律2237.2.2物質(zhì)加熱過程中的變化2277.2.3熱分析基本術(shù)語2287.3熱分析方法及設(shè)備2347.3.1差熱分析法2367.3.2熱重法2447.3.3差示掃描量熱法2497.3.4微量熱法253參考文獻(xiàn)256第8章礦物材料表面特性2598.1概述2598.2Zeta電位分析2598.2.1Zeta電位分析基本原理2598.2.2Zeta電位分析儀2618.2.3Zeta電位分析儀的制樣方法2628.2.4Zeta電位分析在礦物材料中的應(yīng)用2648.3紅外光譜2658.3.1紅外光譜基本原理2658.3.2傅里葉變換紅外光譜儀2678.3.3紅外光譜制樣及分析方法2698.3.4紅外光譜在礦物材料中的應(yīng)用2728.4激光拉曼光譜2738.4.1激光拉曼光譜基本原理2738.4.2激光拉曼光譜儀組成2768.4.3激光拉曼光譜的分析方法2798.4.4激光拉曼光譜在礦物材料中的應(yīng)用2798.5X射線光電子能譜2818.5.1X射線光電子能譜基本原理2818.5.2X射線光電子能譜儀的結(jié)構(gòu)2828.5.3定性分析2838.5.4定量分析2858.5.5X射線光電子能譜在礦物材料中的應(yīng)用2868.6紫外光電子能譜2888.6.1紫外光電子能譜基本原理2888.6.2紫外光電子能譜儀的結(jié)構(gòu)2888.6.3紫外光電子能譜的分析方法2908.6.4紫外光電子能譜在礦物材料中的應(yīng)用292參考文獻(xiàn)295第9章礦物材料界面特征2989.1概述2989.2原子力顯微鏡2989.2.1原子力顯微鏡工作原理和儀器構(gòu)造2999.2.2原子力顯微鏡的成像模式3019.2.3原子力顯微鏡的工作環(huán)境3039.2.4原子力顯微鏡的特點(diǎn)3049.2.5原子力顯微鏡的假象3049.2.6原子力顯微鏡樣品的要求3079.2.7原子力顯微鏡的分辨率3089.2.8原子力顯微鏡的功能技術(shù)3089.2.9原子力顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用3129.3掃描隧道顯微鏡3239.3.1掃描隧道顯微鏡基本原理和儀器構(gòu)造3249.3.2掃描隧道顯微鏡的工作模式3279.3.3掃描隧道顯微鏡的特點(diǎn)3289.3.4掃描隧道顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用3289.4共聚焦激光掃描顯微鏡3339.4.1共聚焦成像基本原理3349.4.2共聚焦儀器構(gòu)成3359.4.3共聚焦樣品制備及分析3379.4.4共聚焦激光掃描顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用338參考文獻(xiàn)343
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